電波暗室主要用于輻射試驗，避免外界電磁波信號對測試信號造成干擾，同時電磁波吸波材料可以減小由于墻壁和天花板的反射對測試結果造成的多徑效應影響等。由此可見，構建電波暗室具有諸多優(yōu)勢。下面就著重為大家介紹一下影響電波暗室性能指標的因素有哪些：

影響其性能指標的因素主要包括：暗室參數(shù)、天線測量的誤差以及其他誤差等。

影響暗室性能指標的因素是多元化的，也是很復雜的，在利用光線發(fā)射法和能量物理法則對暗室性能進行仿真計算時，需要考慮電波的傳輸去耦，化去耦，標準天線的方向圖因素，吸收材料本身的垂直入射性能和斜入射性能，多次反射等影響。但在實際的工程設計過程中，往往以吸收材料的性能作為暗室性能的關鍵決定因素。

1)交叉化度：由于暗室結構的不嚴格對稱、吸收材料對各種化波吸收的不一致性以及暗室測試系統(tǒng)等因素使電波在暗室傳播過程中產生化不純的現(xiàn)象。如果待測試天線與發(fā)射天線的化面正交和平行時，所測試場強之比小于-25dB，就認為交叉化度滿足要求。

2)多路徑損耗：路徑損耗不均勻會使電磁波的化面旋轉，如果以來波方向旋轉待測試天線，接收信號的起伏不超過+-0.25 dB，就可忽略多路徑損耗。

3)場均勻性：在暗室靜區(qū)，沿軸移動待測試天線，要求起伏不超+-2dB；在靜區(qū)的截面上，橫向和上下移動待測天線，要求接收信號起伏不超過+-0.25 dB。

還可能導致天線測量產生誤差的因素有：

低頻時與電抗近場的耦合可能比較顯著，測量天線的對準誤差，其他干擾信號，測試電纜所引起的誤差等。

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